SF160FCT - микрофокусная рентгеноскопическая система высокого разрешения для контроля полупроводников, печатных плат и электронных компонентов. Позволяет обнаруживать скрытые микродефекты благодаря превосходной рентгеновской визуализации.

Система SF160FCT оснащена рентгеновской  трубкой открытого типа  160 кВ с размером фокального пятна 0,9 мкм. Позволяет  увеличивать изображения до 4800x и контролировать объекты под углом до 70° с помощью 5-осевого манипулятора.

3D-КТ (компьютерная томография) визуализирует скрытые структуры и микродефекты внутри объекта. Уникальная технология наклонной компьютерной томографии SEC обеспечивает послойную визуализацию большого образца с высоким увеличением. Как правило, КТ-сканирование ограничено размером объекта, но технология наклонной КТ может быть адаптирована к сборкам печатных плат, крупногабаритным многослойным платам и даже к полупроводниковым пластинам.